電子顯微學(xué)網(wǎng)絡(luò)會議（iConference on Electron Microscopy，iCEM）由儀器信息網(wǎng)發(fā)起，圍繞當(dāng)下電子顯微學(xué)新技術(shù)和熱點應(yīng)用邀請業(yè)界專家學(xué)者做精彩報告，為廣大電子顯微學(xué)科研及相關(guān)工作者提供一個免費的學(xué)習(xí)平臺。
2020 年 6 月 18 日，飛納電鏡——復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司的工程師將以“ 飛納全自動掃描電鏡 ParticleX 在鋼鐵、汽車、鋰電等材料檢測中的應(yīng)用” 為題，系統(tǒng)闡述全自動掃描電鏡 ParticleX 的工作原理，并分享在鋼鐵夾雜物、汽車清潔度、鋰電清潔度和 3D 打印粉體評估等領(lǐng)域的應(yīng)用案例。
報告時間：2020 年 6 月 18 日 15:00 - 15:30
全自動掃描電鏡實現(xiàn)了從定性分析到定量分析的突破，同時，報告中還會為大家介紹 2020 年推出的 第六代飛納臺式掃描電鏡 產(chǎn)品及其技術(shù)突破。歡迎大家準(zhǔn)時參加，精彩內(nèi)容，不容錯過呦！
訪問飛納電鏡網(wǎng)站 “新聞” 頁面獲取報名方式！
傳真：
地址：上海市閔行區(qū)虹橋鎮(zhèn)申濱路 88 號上海虹橋麗寶廣場 T5，705 室
版權(quán)所有 © 2018 復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司 備案號：滬ICP備12015467號-2 管理登陸 技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) GoogleSitemap
